產(chǎn)品詳情
芯片銀漿厚度測量儀
/銀漿爬坡檢測儀/芯片銀漿厚度測量儀/銀漿Silver Paste高度測試儀/銀漿爬坡45度合肥測量顯微鏡/銀漿高度測量系統(tǒng)/銀漿爬坡檢測儀/斜視測量儀
全新二代銀漿(爬膠)高度測量儀MT-F2000集多項創(chuàng)新于一身,從外觀到性能都緊跟國際領先設計風向,致力于拓展工業(yè)領域新格局。秉承不斷探索、不斷超越的品牌設計理念,為客戶提供完善的工業(yè)檢測解決方案。
銀漿(爬膠)高度45度檢測系統(tǒng)是半導體銀漿silver paste高度專業(yè)檢測儀器,也稱之為銀漿厚度檢測儀;在半導體芯片加工中,需要對芯片die中的晶圓wafe進行銀漿固定,這就需要對固定工藝進行檢測,已判斷銀漿的高度或厚度是否達到指定的技術指標;此系列檢測儀是此工藝專業(yè)檢測儀器,通過顯微鏡非接觸圖像識別的方式進行觀察及量測,配專業(yè)相機、軟件及固定治具;快速有效的檢測此工藝技術指標。
MT-F2000系列爬膠高度測量儀主要用于半導體、led 封裝行業(yè),上芯后銀漿爬芯的高度,銀漿溢出(Fillet Height)以及占比的測量。通過軟件軟體功能提供客制化相關檢測項目、檢測數(shù)據(jù)存儲、檢索和管理。
MT-F2000系列爬膠高度測量儀,采用歐米特上等光學系統(tǒng),具有低畸變,高分辨率,大景深,市場寬大且平坦,齊焦性好等特點,設計新穎,操作簡便??墒謩忧袚Q觀察角度,觀察工作距離高達82mm,方便取放產(chǎn)品。
MT-F2000系列爬膠高度測量儀,全程齊焦,圖像清晰,40-270倍連續(xù)變倍。
MT-F2000系列爬膠高度測量儀擁有人性化的操作體驗,用戶在調焦和變倍過程中,可將手肘完全放在工作臺上,優(yōu)化操作手感。
型號 | OMT-F2000配置 |
光學系統(tǒng) | 2D齊焦齊心定格定倍光學系統(tǒng) |
光學放大倍數(shù) | 0.7倍-4.5倍 |
數(shù)碼放大倍數(shù) | 40倍-270倍(23.8寸顯示器) |
高清 圖像處理系統(tǒng) | 1200萬1/2寸彩色索尼工業(yè)芯片,高靈敏度、低噪聲SENSOR,性能強大,預覽流暢; |
像元尺寸:3.75um*3.75um/數(shù)據(jù)位數(shù):12bit 逐行曝光 | |
分辨率:4000*3000 | |
輸出接口 | USB3.0數(shù)據(jù)輸出接口 |
拍照 | 拍照(鼠標拍照存儲在U盤) |
測量 | 全新測量系統(tǒng) |
觀察角度 | 45度 |
光源 | OMT-60X長壽命可調亮度LED光源 |
夾式可調LED冷光源,單顆射燈 | |
支架 | 8英寸載物臺,平臺面積 300*270mm,移動行程:200mmX200mm機械平臺,X、Y方向同軸調節(jié); |
8英寸平臺,平臺面積 525*330mm,移動行程:210mmX210mm機械平臺,X、Y方向同軸調節(jié);含快速移動裝置(型號:MT-F2000-PRO) | |
電腦 | 主流品牌臺式電腦主機 |
顯示器 | 23.8寸高清HDMI液晶顯示器分辨率1920*1080 |
標尺 | 高精度型測微尺,格值0.01mm |
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